1. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, X-ray, and ion beams

پدیدآورنده :

موضوع : Microscopy ، Materials

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

2. Microscopy of materials; modern imaging methods using electron, Xray and ion beams

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Microscopy ، Materials,Data processing ، Finite element method,Data processing ، Continuum mechanics,، TEPSAC )Computer program(,Data processing ، Thermoelesticity

رده :
TA
418
.
7
.
B6

3. Microscopy of materials: modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)

موضوع : ، Materials- Microscopy

رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b

4. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع : ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy

رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006